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J-GLOBAL ID：201602006224729907   整理番号：72A0251922

固体タンタルコンデンサ損傷モードとその解析

Solid tantalum capacitor failure modes and analysis.

著者 (1件)： TABOR D A
資料名： Annu Proc Int Reliab Phys  (Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻： 8  ページ： 233-237  発行年： 1971年 
JST資料番号： A0631A  ISSN： 1541-7026  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 固体タンタルコンデンサに対する総括的な損傷解析技術について述べた。9社の試料について研究し,この技術を評価するために,品質に従ってそれらをランクづけした。寿命試験によって,このランクづけが証明された。損傷以前の解析と指定の試験を行なうことによって,固体タンタルコンデンサの損傷は大幅に減少した。とくに,損傷前の解析を行なうことによって,50%以上の試料で1けた以上の損傷の減少が見られた;写図15

シソーラス用語： コンデンサ ,  タンタル ,  寿命試験

タイトルに関連する用語 (5件)： 固体 ,  タンタル ,  コンデンサ ,  損傷 ,  解析