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J-GLOBAL ID：201602006683748353   整理番号：70A0242254

サイリスタの特性と信頼性

著者 (1件)： 鈴木彰
資料名： 電子科学  (Electronic Science)
巻： 20  号： 8  ページ： 9-22  発行年： 1970年 
JST資料番号： G0074A  ISSN： 0415-410X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： サイリスタの一般使用条件において信頼度に及ぼすストレスには,熱的ストレス,機械的ストレス,ふん囲気および電気的ストレスなどがある。定格はこれらストレスによって決るため,減定格によって,それぞれのストレスは小さくなり信頼度は向上する。さらに,サイリスタの構造および材料によってはそれぞれのストレスに対する強度も違うのでサイリスタを使用するにあたっては用途に合った素子の選択を行い,減定格を行なわければならない。この減定格と故障率の関係について述べる;写図29表8

シソーラス用語： サイリスタ ,  信頼性
準シソーラス用語： 減定格 ,  減定格(サイリスタ) ,  信頼性(サイリスタ)

タイトルに関連する用語 (1件)： サイリスタ