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J-GLOBAL ID：201602006773613015   整理番号：71A0146907

電子衝撃XLIII有機いおう化合物の陰イオン質量スペクトルスルホン,スルホキシド,スルホンアミド,スルホニルクロリド,スルホナート,スルフィド,チオフェン

Electron impact studies. XLIII. Negative-ion mass spectra of organo-sulphur compounds. Sulphones, sulphoxides, sulphonamides, sulphonylchlorides, sulphonates, sulphides, and thiophenes.

著者 (4件)： NOLDE C ,  MADSEN J O ,  LAWESSON S-O ,  BOWIE J H
資料名： Ark Kemi  (Arkiv foer Kemi)
巻： 31  号： 6  ページ： 481-488  発行年： 1970年 
JST資料番号： A0455A  CODEN： ARKEA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： スウェーデン (SWE)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： -S-,-S(O)-,-S(O₂)-基を含む芳香族化合物の陰イオン質量スペクトルは,いおう原子のα位の切断により生ずる基準ピークを持つ単純なフラグメンテーションパターンを示す。多くの場合分子イオンは存在するが,スルホンアミドのスペクトルでは分子イオンよりM-1イオンの方が多い。アリールジスルフィドの陰イオン質量スペクトルは熱分解フラグメントを含む;写図6表1参33

シソーラス用語： 質量スペクトル
準シソーラス用語： MS ,  質量スペクトル(有機いおう化合物) ,  有機いおう化合物 ,  有機いおう化合物(MS)

タイトルに関連する用語 (10件)： 電子衝撃 ,  有機いおう化合物 ,  陰イオン ,  質量スペクトル ,  スルホン ,  スルホキシド ,  スルホンアミド ,  スルホニルクロリド ,  スルフィド ,  チオフェン