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J-GLOBAL ID：201602006917504011   整理番号：72A0126123

走査電子顕微鏡および電子スペクトロメータによる表面の映像化および解析

Abbildung and Analyse von Oberflaechen mit Rasterelektronenmikroskop und Elektronenspektrometer.

著者 (1件)： HOLM R
資料名： Angew Chem  (Angewandte Chemie)
巻： 83  号： 17/18  ページ： 632-645  発行年： 1971年 
JST資料番号： A0396A  ISSN： 0044-8249  CODEN： ANCEAD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： ドイツ (DEU)  言語： ドイツ語 (DE)

抄録/ポイント： 物質の表面のトポグラフィーおよび組成の研究に不可欠となっている走査電子顕微鏡について,その原理を述べ各種応用例を豊富な写真とともに紹介,さらに最近話題となっているX線光電子スペクトル(ESCA)についても言及;写図44参21

シソーラス用語： X線光電子スペクトル ,  電子顕微鏡 ,  表面構造
準シソーラス用語： X線光電子スペクトル(総説) ,  総説 ,  電子顕微鏡(総説)

タイトルに関連する用語 (4件)： 走査電子顕微鏡 ,  電子スペクトロメータ ,  映像 ,  解析