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J-GLOBAL ID：201602007136788606 整理番号：65A0012353
X線干渉計
An X-ray interferometer.
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BONSE U
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HART M
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資料名：
Appl Phys Lett (Applied Physics Letters)
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巻：
6
号：
8
ページ：
155-156
発行年：
1965年
JST資料番号：
H0613A
ISSN：
0003-6951
CODEN：
APPLAB
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
短報
発行国：
アメリカ合衆国 (USA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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干渉ビーム路の主要部分が充分広く離れ,しかも空気中に存在するようなX線干渉計を製作した。有用な応用面として(1)X線屈折率の厳密測定(軽元素で精度0.1%)(2)微少でかつ複雑な対象物の厚みの精密測定。(3)X線位相差顕微鏡写真(特に生体に対し),(4)極度に小さな格子ひずみの測定(5)分散面の直接測定,等があげられる;写1図2
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