文献

J-GLOBAL ID：201602007152329751   整理番号：71A0000204

工学的測長学におけるスペックルパターンとホログラフィ技術

Speckle pattern and holographic techniq ues in engineering met rology.

著者 (2件)： BUTTERS J N ,  LEENDERTZ-J A
資料名： Opt Laser Technol  (Optics Technology)
巻： 3  号： 1  ページ： 26-30  発行年： 1971年 
JST資料番号： D0245B  ISSN： 0030-3992  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ホログラフィ干渉法を測長に用いた場合の利点は反射面が光学的な面精度でよいなどいくつかあるが,実際は写真乾板の処理や再設置においてλ/20の位置の狂いが問題にされたり,3000本/mmの高分解能の感光材料が必要であるなどの難しさがある。スペックルパターンを応用した測長法によればそれらの難点のいくつか解決される。スペックルパターンを利用すれば波面の効果的なサンプリングが低密度の記録で実行できるので,テレビジョンなどを利用して変位やひずみ,振動などの測定が実時間で処理できる。観測した振動面の節線を示す。この結果は工業的な応用に適している;写図7参6

シソーラス用語： 振動測定 ,  長さ測定
準シソーラス用語： スペックルパターン ,  ホログラフィ干渉法

タイトルに関連する用語 (4件)： 工学 ,  測長 ,  スペックルパターン ,  ホログラフィ