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J-GLOBAL ID：201602007203894505   整理番号：60A0008415

試料の乾そうを防ぐ大気圧または気体圧の下での電子顕微鏡観察

Elektronenmikroskopie von Objekten unter Atmosphaerendruck oder unter Drucken, welche ihre Austrocknung verhindern.

著者 (1件)： HEIDE H G
資料名： Naturwissenschaften  (Naturwissenschaften)
巻： 47  号： 14  ページ： 313-317  発行年： 1960年 
JST資料番号： D0195A  ISSN： 0028-1042  CODEN： NATWAY  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU) 

抄録/ポイント： 高圧の空気または気体中にある試料の電子顕微鏡観察は,試料が照射の際に気体により損傷や,減成をおこすことなしに長時間可能であることを示した。試料の周囲の気体層は非常にうすくでき,コントラスト低下は第2の支持膜により条件づけられた。迅速な脱水を防ぐため,高湿度の空気を可能な圧力まで,対物箱に導いた

タイトルに関連する用語 (5件)： 試料 ,  乾そう ,  大気圧 ,  気体圧 ,  電子顕微鏡観察