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J-GLOBAL ID：201602007499681668   整理番号：60A0108027

電離層反射測定のための高周波スペクトロメータ III 見かけの反射高から真の反射高を求める方法

Aktive Hochfrequenzspektrometer fuer ionosphaerische Echolotung.III.Beatimmung der wahren aus der scheinbaren Reflexionshohe.
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著者 (1件)：
PAUL A K

PAUL A K について


資料名：
Archiv der Elektrischen Uebertragung  (Archiv der Elektrischen Uebertragung)

Archiv der Elektrischen Uebertragung について


巻： 14  号： 10  ページ： 468-476  発行年： 1960年 
JST資料番号： A0447A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU) 
抄録/ポイント：
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最初の部分では見かけの高さの測定精度を改善するためにいくつかの提案をし,次に真の高さを決定する新しい方法を述べた。イオノグラムをf2の軸上で等分しその分割点のh1を読む。各区分の中では電子密度の高さに対する傾斜を一定と仮定し,またその分割点では連続であるとする。最後にこの方法を夜間と昼間の電離層に適用し実の高さを計算するには磁気およびイオン成分を共に用いるべきことを示した
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電離層

電離層 について

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高周波

高周波 について

, 
スペクトロメータ

スペクトロメータ について


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