文献
J-GLOBAL ID:201602007771089005   整理番号:58A0056476

情報伝送試験器(200-1400bit/sの2進データの伝送系のバイアスひずみ,特性ひずみなどを測定する全トランジスタ化試験器の原理,ブロックダイアグラムなど)

Data Transmission Testing Set.
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資料名:
巻: 12  号:ページ: 51-56  発行年: 1958年 
JST資料番号: E0389B  資料種別: 逐次刊行物 (A)
発行国: アメリカ合衆国 (USA) 

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