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J-GLOBAL ID：201602007945260728   整理番号：64A0148887

85°散乱光測定による低光沢塗装の評価

Evaluation of low gloss finishes with 85°sheen measurements.

著者 (1件)： SCHRECKENDGUST J G
資料名： Off Dig  (Official Digest)
巻： 36  号： 471  ページ： 356-359  発行年： 1964年 
JST資料番号： H0021A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

抄録/ポイント： 60°法で30以下の値を示す低光沢面に対しては,ASTMでは85°法が推称されている。この方法の原理を述べ,60°法と比較してその差を示した;図3表1

タイトルに関連する用語 (5件)： 散乱 ,  光測定 ,  光沢 ,  塗装 ,  評価