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文献
J-GLOBAL ID:201602008080344862   整理番号:68A0007009

物理的分析手段としての光学的放射スペクトルおよびX線けい光スペクトルの方法の比較考察

Vergleichende Betrachtungen zum Einsatz der optischen Emissionsspektroskopie und der Rtfntgenfluorezenz Spektroskopie als physikalische Analysenverfahren
著者 (2件):
資料名:
ページ: 71-105  発行年: 1965年
JST資料番号: C0426B  ISSN: 0021-5856  CODEN: JEJAA   資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 東ドイツ (DDR) 
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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放射スペクトル及びX線けい光スペクトルの各について,測定装置,試料の調整法,誤差の原因と定量分析の精度と所要時間,応用の可能性と限界とについて論じた。最後に二つの分析方法を比較したが,互に相補うべきものであるとした;写5図7表4参100

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