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J-GLOBAL ID：201602008378761156   整理番号：72A0238287

SF₆内での電離および付着係数の測定

Measurement of ionisation and attachment coefficients in SF6

著者 (2件)： BOYD H A ,  CRICHTON G C
資料名： Proc Inst Electr Eng  (Proceedings of the Institution of Electrical Engineers)
巻： 118  号： 12  ページ： 1872-1877  発行年： 1971年 
JST資料番号： D0380C  ISSN： 0020-3270  CODEN： PIEEAH  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 気圧.~400TorrのSF₆内での前期電離電流の測定を,115≦E/p≦200V/cm(Eは電界,pは20°Cの気圧)の範囲で測定し,また一次電離係数α,二次電離係数γおよび付着係数ηを求めた。a/p(a=α-η).α/p,η/p,およびγはE/pの関数だけて’あ’),相似則が成立つ。実験的な制限について概観し,電流成長への電場の不均一性の効果についても論ヒた;写図3表1参23

シソーラス用語： 絶縁破壊 ,  電離 ,  付着
準シソーラス用語： ふっ化いおう

タイトルに関連する用語 (3件)： SF6 ,  電離 ,  付着係数