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J-GLOBAL ID：201602008390910221   整理番号：58A0032812

周期的歪による,電気めつきされた銅における粒の成長と斑点(めっきされた金属中で粒の成長の起るとき斑点が生成し,そうでないときは生成しない)

Grain Growth and Flecking in Electroplated Copper Caused by Cyclic Stress.

著者 (2件)： OKUBO H ,  NOZASI N
資料名： J Electrochem Soc  (Journal of the Electrochemical Society)
巻： 105  号： 7  ページ： 384-386  発行年： 1958年 
JST資料番号： C0285A  ISSN： 0013-4651  CODEN： JESOAN  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

タイトルに関連する用語 (4件)： 銅 ,  成長 ,  斑点 ,  めっき