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J-GLOBAL ID：201602008723195916 整理番号：60A0017760
Cs-Sb合金の形成 I Cs-Sb膜の比抵抗
Formation of cesium antimonide.I.Electrical resistivity of the film of cesium-antimony system.
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著者 (1件)：
K MI〓KE
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資料名：
J Appl Phys (Journal of Applied Physics)
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巻：
31
号：
1
ページ：
76-81
発行年：
1960年
JST資料番号：
C0266A
ISSN：
0021-8979
CODEN：
JAPIAU
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
原著論文
発行国：
アメリカ合衆国 (USA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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70~100°CでCs-Sb薄膜の比抵抗と温度依存性を測定.抵抗の温度係数はCs
0.91
Sb以外すべて負である.0°Cにおける熱的活性化エネルギーを異なる4つの試料で求む;図5参27
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