文献
J-GLOBAL ID：201602008777871003 整理番号：64A0168154
FETの雑音測定法
HOW to measure FET noise.
出版者サイト
複写サービスで全文入手
高度な検索・分析はJDreamⅢで
著者 (1件)：
COHEN J M
COHEN J M について
「COHEN J M」ですべてを検索
資料名：
Electronics (Electronics)
Electronics について
JST資料番号 B0455B ですべてを検索
ISSN,ISBN,CODENですべてを検索
資料情報を見る
巻：
37
号：
30
ページ：
62-63
発行年：
1964年
JST資料番号：
B0455B
ISSN：
0013-5070
CODEN：
ELECA
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
解説
発行国：
アメリカ合衆国 (USA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
回路設計雑音は非常に重要であるが,低雑音である電解効果型トランジスタ(FET)に対しては従来の雑音指数の方法では測定出来ない。そこで種々のSource抵抗に対するGB積1C/S当りの雑音電圧を雑音指数をパラメータにしてグラフを描いておき,Source抵抗とFETのデータシーか加ら雑音電圧を求めるようにする。さらに有用な雑音表示方法は,雑音を入力に関して雑音電圧と雑音電流に分けて表示する方法である。即ちSourceのインピーダンスが零の時の雑音電圧と.のときの雑音電流とを用いて容易に計算することが出来る;図2
タイトルに関連する用語 (2件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
FET
FET について
「FET」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,
雑音測定法
雑音測定法 について
「雑音測定法」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
前のページに戻る
TOP
BOTTOM
