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J-GLOBAL ID：201602008803840081   整理番号：72A0026876

N₂分子とCNイオンのX線散乱と化学結合

X-ray scattering and the chemical bond in N₂, and CN.

著者 (3件)： GROENEWEGEN P P M ,  ZEEVALKINK J ,  FEIL D
資料名： Acta Crystallogr Sect A  (Acta Crystallographica. Section A. Foundations of Crystallography)
巻： 27  号： 5  ページ： 487-491  発行年： 1971年 
JST資料番号： A0315B  ISSN： 0108-7673  CODEN： ACACEQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： N,分子とCNイオンの化学結合とX線散乱を詳細に研究した。結合と非結合模型から導かれたこれらの系の散乱の差は,R因子が0.04であることを特長づけた。散乱を殻内電子と価電子の部分に分けることは,結合の効果がその系の価電子構造に存在することを証明する。それゆえこれらの分子構造因子はX線回折実験により化学結合の観測が可能であることを証明する;表9参18

シソーラス用語： X線回折 ,  化学結合 ,  理論
準シソーラス用語： CN^- ,  N₂ ,  X線回折(理論)

タイトルに関連する用語 (6件)： N2 ,  分子 ,  Cn ,  イオン ,  X線散乱 ,  化学結合