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文献
J-GLOBAL ID:201602009109121260   整理番号:68A0344900

ニッケル-クロムめっきにおけるニッケルの腐食挙動

著者 (2件):
資料名:
巻: 36  号:ページ: 243-249  発行年: 1968年
JST資料番号: G0072A  ISSN: 1344-3542  CODEN: EECTFA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN) 
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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題記に関する環境因子としてCl-イオンとFe3+イオンの影響あるいはCrめっき層中の割れの分布による影響を検討。定電位分極法に現われるNiの溶解の電流密度はCrめっき層の割れが増加するにつれ増大.Crめっき層のわれが同程度の時,光沢Niめっきの電流密度は無光沢めっきより小.またNiの腐食量もCrめっき層の割れの密度に比例して増大.Cl-イオンやめっき層中のSはNiめっき層の溶解を促進する.F3+イオンはめっき層の厚さが比較的厚い時は開路電位をCrめっき層の電位に近づけるが,うすい場合はNiめっき層の電位に近づける:参14
タイトルに関連する用語 (3件):
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