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J-GLOBAL ID：201602009360415109   整理番号：70A0247972

CRTピーム位置検出装置における残光影響の抑圧

Persistence suppression in CRT beam position detection.

著者 (1件)： EGGENBERGER J S
資料名： IBM Tech Disclosure Bull  (IBM Technical Disclosure Bulletin)
巻： 12  号： 12  ページ： 2364-2365  発行年： 1970年 
JST資料番号： E0292B  ISSN： 0018-8689  CODEN： IBMTA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高遮のCRTピーム位置検出装置において,けい光体の残光特性により検出器に雑音が発生し検出誤差を生ずる。特に発光効率の高いけい光体になる程残光時間が長いのでその影響が大きい。 けい光体の残光特性に対応する特性を持ったフィルタを,検出回路にそう入することにより,残光の影響を除去する;表1

シソーラス用語： 検出装置
準シソーラス用語： CRTビーム位置制御システム ,  CRTビーム位置制御システム(検出装置)

タイトルに関連する用語 (4件)： CRT ,  位置検出装置 ,  残光 ,  抑圧