文献

J-GLOBAL ID：201602009365311000   整理番号：70A0247591

放射線の存する環境の集積回路技術への刺激

Impact of the radiation environment on integrated-circuit technology.

著者 (3件)： SPRATT J P ,  SCHNABLE G L ,  STANDEVEN J D
資料名： IEEE J Solid-State Circui  (IEEE Journal of Solid-State Circuits)
巻： 5  号： 1  ページ： 14-24  発行年： 1970年 
JST資料番号： B0761A  ISSN： 0018-9200  CODEN： IJSCBC  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文は核爆発点付近の放射線の存在する環境の中で使用するシリコンモノリシック集積回路の設計及び製造の技術を総括したものである。そして典型的な放射線と材料との間の相互作用について論じこの相互作用に関連して,回路の選択と設計について考察し,それを満足するに必要な工程開発のまとめを行う。このような技術によって,中性子では5×10¹³1/cm²程度,γ線では照射景10⁵rad,照射率10⁸rad/secまではバイポーラモノリシック集積回路はその機能を満たす;写図15参33

シソーラス用語： 集積回路 ,  集積回路 ,  放射線
準シソーラス用語： IC ,  モノリシック ,  集積回路(モノリシック) ,  放射線(IC)

タイトルに関連する用語 (4件)： 放射線 ,  環境 ,  集積回路技術 ,  刺激