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J-GLOBAL ID：201602009397822782   整理番号：58A0001081

仕上面あらさ規格の現状(あらさの概念,触針式を主に各種あらさ測定法の本質から,ISOの提案におよび,それに対して模形的に考えたいくつかの表面形状について理論的検討をする)

Rougghness standards to-day.

著者 (1件)： BICKEL E
資料名： Microtecnic  (Microtecnic)
巻： 12  号： 2  ページ： 41-50  発行年： 1958年 
JST資料番号： D0075A  ISSN： 0026-2854  CODEN： MITCA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： スイス (CHE) 

タイトルに関連する用語 (11件)： 仕上面 ,  あらさ ,  規格 ,  現状 ,  概念 ,  触針 ,  測定法 ,  ISO ,  提案 ,  表面形状 ,  理論