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J-GLOBAL ID：201602009471861922   整理番号：70A0038485

遷移金属酸化物表面層の特性化に利用できる酸素X線発光バンドの移動

Oxygen X-ray emission band shifts applied to the characterization of transition metal oxide surface layers.

著者 (3件)： KRAUSE H B ,  SAVANICK G A ,  WHITE E W
資料名： J Electrochem Soc  (Journal of the Electrochemical Society)
巻： 117  号： 4  ページ： 557-558  発行年： 1970年 
JST資料番号： C0285A  ISSN： 0013-4651  CODEN： JESOAN  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 酸素X線発光パンド(OK.)の移動が遷移金属上の酸化物膜の特性化に使用できることをTi,Mn,Feの酸化物を対象に,標準物質としてこれらの粉末を用いてAppliedReseachLabo,のX線マイクロアナライザーにより測定した金属/酸化物モル比と移動の大きさとの関係図より報告;写図2参3

準シソーラス用語： X線発光バンド ,  遷移金属酸化物層 ,  遷移金属酸化物層(X線発光バンド) ,  発光X線分析 ,  発光X線分析(遷移金属酸化物層)

タイトルに関連する用語 (6件)： 遷移金属酸化物 ,  表面層 ,  特性化 ,  酸素 ,  X線発光 ,  バンド