抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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イオン注入は半導体へのドーピングにたいして,容易かつ正確な制御技術を必要とする。また素子の電気的性質を注入領域の最終的な空間分布やこれら注入原子の格子内位置に依存するが,この論文の目的は固体へ入射した種々のエネルギーをもつイオンの空間分布を計算するための方法について述べ,これら計算式は空間分布の一次と二次空間モーメントをとる積分方程式に限定され,
11B,
22Si,
115Inの各イオンについて調べた。その方程式の解法はターゲットの原子とイオン間の1回衝突でのエネルギ移行の拡張にセカンド・オーダーまで得た。また注入されたイオンの通路に沿っての平均飛程も同様な方程式で推論した