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J-GLOBAL ID：201602009507738782   整理番号：70A0026358

Ag板の外来-内存欠陥の高電圧電子顕微鏡による観察

Observations of extrinsic-intrinsic faulting in Ag platelets b y high-voltage electron microscopy.

著者 (2件)： SNYMAN H C ,  WILSDORF H G F
資料名： J Appl Phys  (Journal of Applied Physics)
巻： 41  号： 1  ページ： 35-38  発行年： 1970年 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 化学的に成長させた(111)Ag薄板を変形し,高電圧電子顕微鏡で調べた。その結果二種類の転位網ができている事がわかった。第一種は収縮及び延びた節の普通の転位網であり,通常軽い変形の領域に観測される。さらに変形して行くと,結晶を外来欠陥領域と固有欠陥領域における新しいもっと複雑な転位配列ができる。ある場合にはこれらの転位は非常に規則正しい模様を形作る。この様な転位網の形成機構を最新の理論を用いて論ずる;写図5参12

シソーラス用語： 銀 ,  積層欠陥 ,  転位網 ,  電子顕微鏡観察
準シソーラス用語： 高電圧 ,  電子顕微鏡法 ,  電子顕微鏡法(高電圧)

タイトルに関連する用語 (5件)： Ag ,  外来 ,  欠陥 ,  高電圧電子顕微鏡 ,  観察