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J-GLOBAL ID：201602009518130786   整理番号：71A0227409

走査電子顕微鏡によるアーク発生前後の接点表面観察

Scanning electron microscopy of contact surfaces before and after arcing.

著者 (2件)： VASILE M J ,  KAMMLOTT G W
資料名： Proc Annu Holm Semin Elec  (Proceedings of the Engineering Seminar on Electrical Contacts Phenomena)
巻： 1970  ページ： 11-19  発行年： 1970年 
JST資料番号： E0462C  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 接点のギャップとアークによる電極の損傷を観測することを目的として.走査電子顕微鏡の試料室内に直径0.05inの金電極と直径0.025inのW針電極を設定した。 各電極の設置と移動について詳述した。試料室を2×10^-5torrにした後。充電してある同軸ケーブルを電極に接続し.アークを発生させ.電極を移動させる。 この一連の動作中の電極面を2000~10000倍に拡大して観察した。 アーク電流,アーク継続時間.アークエネルギーを同時に測定することによって,電極面のくほみの直径やブリッジの有無との関係を明らかにできる;写図6表1参7

シソーラス用語： アーク ,  電子顕微鏡 ,  表面
準シソーラス用語： 接点

タイトルに関連する用語 (3件)： 走査電子顕微鏡 ,  アーク発生 ,  観察