文献

J-GLOBAL ID：201602009547111430   整理番号：73A0050261

X線マイクロアナライザによる摩耗の研究

著者 (1件)： 水野万亀雄
資料名： 潤滑  (Journal of Japan Society of Lubrication Engineers)
巻： 18  号： 4  ページ： 305-314  発行年： 1973年 
JST資料番号： F0390A  ISSN： 0449-4156  CODEN： JUNKAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 円すい形ピン試料による繰返し摩擦のない摩耗実験を行ないX線マイクロアナライザを用いて摩耗粉の凹凸像,特性X線像を観察し,かつX線強度分布記録を描かせそれらを検討した結果1)摩擦距離が長くなる程かつトラックの中央部程摩耗粉が大きく発達した,2)軟質のCu,Alがより硬質のFeを引っかくのを観察し,その元凶はわずかのFe摩耗粉であることを確認,3)トラックの断面の摩耗量はその中央に多く,両端でゼロの円形に分布,4)新しい方法で潤滑効果を測定,5)セタンに対する潤滑効果は0.4μmR_max以下の滑らかな表面に対し,て顕著であり,6)摩耗と摩擦の関係を明らかにしたなどと結論;写図13表2参11

シソーラス用語： X線マイクロアナライザ ,  潤滑 ,  摩耗試験

タイトルに関連する用語 (3件)： X線マイクロアナライザ ,  摩耗 ,  研究