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J-GLOBAL ID：201602009582537822   整理番号：72A0156839

平滑な薄膜のけい光X線分析における2次励起

Die Sekundaranregung bei der Rontgenfluoreszenzanalyse ebener dunner Schichten.

著者 (3件)： POLLAI G ,  MANTLER M ,  EBEL H
資料名： Spectrochim Acta Pt B  (Spectrochimica Acta. Part B. Atomic Spectroscopy)
巻： 26  号： 12  ページ： 747-759  発行年： 1971年 
JST資料番号： B0793A  ISSN： 0584-8547  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： ドイツ語 (DE)

抄録/ポイント： 次の各場合について,波長一定のX線が2次励起をする関係を理論的に考察した。担体素子の特性X線が薄層素子に入りそこで2次励起をする場合0薄層素子の出す特性X線が担体素子中に入りそこで,2次励起をする場合.合金ような試料の内部で2次励起のおこる場合,いずれの場合にも理論的考察にもとついて,2次励起の大きさを数式であらlbした。薄層素子の特性X線によるときは2次励起は全強度の25%までの値となり,担体素子の特性X線のときは最大5%までである。合金薄膜と合金は共に2次励起を示すが影響は比較的小さい。約1000,E膜で2次励起は全強度の2%までである;写図10参3

シソーラス用語： けい光X線分析 ,  白金 ,  薄膜

タイトルに関連する用語 (3件)： 薄膜 ,  けい光X線分析 ,  励起