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J-GLOBAL ID：201602009607054660   整理番号：74A0236679

表面チャネルCCDイメージ・アレイの低光レベルでの特性

Characterization of surface channel CCD image arrays at low light levels.

著者 (4件)： WHITE M H ,  LAMPE D R ,  BLAHA F C ,  MACK I A
資料名： IEEE J Solid-State Circui  (IEEE Journal of Solid-State Circuits)
巻： 9  号： 1  ページ： 1-13  発行年： 1974年 
JST資料番号： B0761A  ISSN： 0018-9200  CODEN： IJSCBC  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 前表面イメージング,線間輸送,2相ステジプ酸化膜,SiケートCCDレジスタをもっ表面チャネルCCDライン・イメージング素子の特性を検討した。1×64CCDの線アレイを解析し,設計,低光レベルでの特性評価をのべ,収集ダイオードでの電荷によってSN比を求めた。絵素海用20us積分時間1.32msで,80dBのダイナミ。ク範囲と135電子の雑音等価信号を得た。独特なCMOS読出し回路によってスイッチングの雑音を防いでいる;写図13表2参14

シソーラス用語： 電荷結合素子
準シソーラス用語： 撮像素子

タイトルに関連する用語 (5件)： チャネル ,  CCD ,  イメージ ,  アレイ ,  光レベル