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J-GLOBAL ID：201602009778247008   整理番号：60A0001917

三光束干渉計を用いに吸収試料の光学的厚さの精密測定

Measurement of the optical thickness of absorbing specimens with the threebeam interferometer.

著者 (2件)： HARIBARAN P ,  SEN D
資料名： J Sci Instrum  (Journal of Scientific Instruments)
巻： 37  号： 11  ページ： 417-419  発行年： 1960年 
JST資料番号： C0354A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR) 

抄録/ポイント： 筆者が先に発表した三光束干渉計(J sci Instr36,70(’59))を改良し,吸収体の厚さを精密に測定できるようにした。本器の先報のものと異なる点は,本器光学配置では入射,出射光束をそれぞれ機器縦方向にほぼ直角に採り出しすることで,前報ではこれがそれと平行に採り出しするようになっていた

タイトルに関連する用語 (5件)： 光束 ,  干渉計 ,  試料 ,  光学的厚さ ,  精密測定