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J-GLOBAL ID：201602009843812109   整理番号：71A0025469

気体散乱の補正を考慮した小角X線散乱の絶対強度測定

Absolute power measurements in small angle X-ray scattering with gas scattering calibration.

著者 (2件)： SHAFFER L B ,  BEEMAN W W
資料名： J Appl Crystallogr  (Journal of Applied Crystallography)
巻： 3  号： 5  ページ： 379-384  発行年： 1970年 
JST資料番号： D0631A  ISSN： 0021-8898  CODEN： JACGAR  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 回転対陰極管からの高強度のX線ビームの補正を角度0°における散乱面積の計算が可能な三種の重い標準気体からの小角散乱の場合についておこなった。水,エチルアルコール.キシレンおよびベンゼンに対しては熱力学的関係から予測される散乱よりも10%ほど過剰である。これは2重散乱に帰因するものと思われる。その他,巨大分子の分子量の決定に対する応用について述べた;写図5表1参21

シソーラス用語： X線小角散乱
準シソーラス用語： 気体散乱 ,  散乱強度

タイトルに関連する用語 (4件)： 気体 ,  散乱 ,  小角X線散乱 ,  絶対強度