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J-GLOBAL ID：201602009893519844   整理番号：58A0000338

Exoelectron(発熱反応の際に核外に出る電子)は非破壊試験に適用できるか

Sind Ezoelektronen zur zerstoerungsfreien WerkatoffprUfung geeignet?

著者 (2件)： SCHMID E ,  LINTNER K
資料名： Schweiz Arch Angew Wiss T  (Schweizer Archiv fuer Angewandte Wissenschaft und Technik)
巻： 24  号： 3  ページ： 79-89  発行年： 1958年 
JST資料番号： E0070A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： スイス (CHE) 

タイトルに関連する用語 (3件)： 発熱反応 ,  電子 ,  非破壊試験