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J-GLOBAL ID：201602009922794868   整理番号：70A0247596

集積回路試験機に関する1970年度の展望

Panorama 1970 des testeurs de circuits . integres,

著者 (1件)： GETZ S
資料名： Electron Ind Microelectro  (Electronique Industrielle et Microelectronique)
号： 133  ページ： 296-306  発行年： 1970年 
JST資料番号： A0115A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： フランス (FRA)  言語： フランス語 (FR)

抄録/ポイント： ベックマン,フェアチャイルド社などのIC関係17社の現在市販しているICテスター等29台を表にし,カタログ的に主要特性を紹介した。数字表示やプログラム化できるものが多く,中にはかなり安価のものもある。大別して1)IC製品の良し悪しを見分けるものと,2)数量的に性能そのものを表示するものの2種がある。この中にはラジオグラフィーおよび雑音解析機も含んでいる;写図13表7

シソーラス用語： 集積回路
準シソーラス用語： 雑音解析機 ,  雑音解析機(集積回路) ,  集積回路試験機

タイトルに関連する用語 (2件)： 集積回路試験 ,  展望