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J-GLOBAL ID：201602010155226105   整理番号：61A0160622

β線による励起X線の利用 V けい光X縁の応用2

著者 (3件)： 榎本茂正 ,  古出富彦 ,  永谷隆
資料名： 名古屋工業技術試験所報告  (Reports of the Government Industrial Research Institute, Nagoya)
巻： 9  号： 12  ページ： 611-617  発行年： 1960年 
JST資料番号： F0514A  ISSN： 0027-7614  CODEN： NAGHA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN) 

抄録/ポイント： β線によってターゲット物質から発生するX線を試料に照射して発生するけい光X線を測定する分析法は,β線を試料に直接照射させる方法に比べて,バックグラウンドが低いという利点がある。本報では,⁹⁰Sr-⁹⁰Y約160mcと鉛ターゲットよりなるX線源を用い,比較的原子番号の大きい物質についてけい光KX線発生断面積をシンチレーション・エネルギー・スペクトロメータを用いて測定した。実験に際して,測定データより断面積を計算する式を理論的に考察し,またNaI(Tl)シンチレーション計数管のエネルギー分解能について実験的に検討した。断面積の測定は.銀,すず,金および鉛について行ない,それぞれ9.4×10²,7.8×10²,4.4×10²,および4.2×10²bであった。この分析法の応用例として,1)切削工具中のタングステン量の測定,2)銅板上のカドミウムめっき厚さの測定,3)フィルム写真濃度の測定などを行なった;写1図12表1参6(著者抄録)

タイトルに関連する用語 (6件)： β線 ,  励起 ,  X線 ,  けい光 ,  縁 ,  応用