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J-GLOBAL ID：201602010869700250   整理番号：58A0053526

回路素子の信頼性試験計画におけるデータ処理について (3万個の抵抗,2万個のダイオード,9千個のトランジスタに平均2週間の信頼性試験を行った際のデータ処理の原理)

Data Handling for a Reliability Test Program.

著者 (2件)： WALTER V W ,  BIEN F I
資料名： IRE Transactions on Broadcast Transmission Systems (Institute of Radio Engineers)  (IRE Transactions on Broadcast Transmission Systems (Institute of Radio Engineers))
巻： I-7  号： 1  ページ： 44-47  発行年： 1958年 
JST資料番号： C0238A  CODEN： IRBSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

分類 (3件)： (EA010100) ,  (EA010203) ,  (EA010306)

タイトルに関連する用語 (7件)： 回路素子 ,  信頼性試験 ,  計画 ,  ダイオード ,  トランジスタ ,  平均 ,  原理