{{ $t("message.ADVERTISEMENT") }}
{{ $t("message.AD_EXPIRE_DATE") }}2022年05月
{{ $t("message.ADVERTISEMENT") }}
{{ $t("message.AD_EXPIRE_DATE") }}2022年05月
文献
J-GLOBAL ID：201602011499621522
整理番号：58A0060008
回路設計への部品信頼度の利用
Utilization of Component Part Reliability Information in Circuit Design.
- 出版者サイト 複写サービス
- 高度な検索・分析はJDreamⅢで
XAVIER M A
, XAVIER M A について
SCHNEIDER L L
, SCHNEIDER L L について
GOTTFRIED P
GOTTFRIED P について
資料名：
IRE Trans Reliab Qual Con
(IRE Transactions on Reliability & Quality Control)
IRE Trans Reliab Qual Con について
巻： 1958 号： RQC14 ページ： 60-68 発行年： 1958年
JST資料番号： C0448A 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
いろいろの見方から部品の信頼度を検査する計画は電子工業のあらゆる範囲で発達している。これらの計画は大きさ,周囲の状況,部品の型などで異なるが,適当に設計された計画は共通な一つの様相をもっている。すなわち信頼度評価だけでなく,信頼度改良にも役立つ。この論文は信頼度検査から得られた部分の資料を用い,回路信頼度を最適にする方式を検討した
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
前のページに戻る
