抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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磁気誘起表面最子状態を利用し.電子散乱率の温度依存性を2-・20“K域で調べた。温度変化から,フェルミ面上の点における電子一格子散乱率を得た。散乱率の異方性は約6であり.散乱率の最大点は首部に存在する;写図2表1参11