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J-GLOBAL ID：201602011725161777   整理番号：71A0045232

半導体における電子寿命および電子スピン緩和時間の偏光による測定

Измерение времени жизни и времени спиновой релаксации электронов в полупроводниках методом оптической ориентации.

著者 (3件)： ГАРБУЗОВ Л З ,  ЕКИМОВ А И ,  САФАРОВ В И
資料名： Pis`ma Zh Ehksp Teor Fiz  (Zhurnal Ehksperimental'noj i Teoreticheskoj Fiziki)
巻： 13  号： 1  ページ： 36-40  発行年： 1971年 
JST資料番号： R0238A  ISSN： 0370-274X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 旧ソビエト連邦 (SUN)  言語： ロシア語 (RU)

抄録/ポイント： Ga。.,Al。.3Asについて77-300°Kにわたりルミネセンスの偏光率と全寿命を測定しeそれから電子寿命τとスピン緩和時間Tlを換算した。Tlは強い温度依存性を示し.理論的に予想されるT512則に従がうが,高温では下側へずれる。τはT,にくらべ温度変化はずっと小さい。放射過程での電子の寿命は,キャリアの寿命にくらべて5-・6倍は長い;写図3参6

シソーラス用語： キャリア寿命 ,  ルミネセンス ,  半導体
準シソーラス用語： 電子スピン緩和時間

タイトルに関連する用語 (3件)： 電子寿命 ,  電子スピン緩和 ,  偏光