文献

J-GLOBAL ID：201602011811953732   整理番号：58A0060981

真空管に対する周囲温度の影響

Effects of Ambient Temperature on Electron Tubes.

著者 (1件)： HOPKINSON K
資料名： IRE Transactions on Broadcast Transmission Systems (Institute of Radio Engineers)  (IRE Transactions on Broadcast Transmission Systems (Institute of Radio Engineers))
巻： RQC-13  号： 6  ページ： 23-28  発行年： 1958年 
JST資料番号： C0238A  CODEN： IRBSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

抄録/ポイント： 著者は,1956年にBarnettの行った真空管試験の結果を整理し.温度が250°Cを越えると.破損率は直線的に急増することを示した。更に250°C以下においても意外に破損の多いことから真空管対策として次の三項目をあげている1.真空管は200°C以下に保つ様にすること2.高温にて検査し.低温破損品を除去すること3.高温用真空管を開拓すること

タイトルに関連する用語 (2件)： 真空管 ,  周囲温度