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J-GLOBAL ID：201602011814663883 整理番号：64A0093584
けい光線による岩石の迅速分析
Rapid analysis of rocks by X-ray fluorescence.
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著者 (1件)：
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資料名：
Anal Chem (Analytical Chemistry)
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巻：
36
号：
7
ページ：
1271-1276
発行年：
1964年
JST資料番号：
A0395A
ISSN：
0003-2700
CODEN：
ANCHAM
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
原著論文
発行国：
アメリカ合衆国 (USA)
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岩石,耐火物中のMg,Al,Si,P,K,Ca,Ti,Mn,FeおよびSrをPhilils全真空型X線分光器で分析。ほう砂で希釈することによりマトリックス効果を打消すことができる。分析範囲:MgO0.05~10,A1
2
O
3
4~70,SiO
2
14~80%,標準試料G-1,W-1について分析を繰返した結果,化学分析より精度がよいことが確められた;図8表2参12
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