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J-GLOBAL ID：201602011914998866   整理番号：73A0143886

半導体検出器X線分光計を用いる徴量元素の定量

Trace element determination with semiconductor detector X-ray spectrometers.

著者 (4件)： GIAUQUE R D ,  GOULDING F S ,  JAKLEVIC M ,  PEHL R H
資料名： Anal Chem  (Analytical Chemistry)
巻： 45  号： 4  ページ： 671-681  発行年： 1973年 
JST資料番号： A0395A  ISSN： 0003-2700  CODEN： ANCHAM  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： けい光X線分析において高い感度と正確さを得るために半導体検出器分光計を使用した。薄い均質な試料中の微量元素から特性X線を発生させるために単一エネルギー励起源を用いた。吸収効果に対する補正を決定した。X線ジオメトリーの検量を行なうために,単元素薄膜標準を用意した。理論的反応断面積とけい光収率データを用いてX線収率と薄膜標準を関係づけた。X線スペクトルのバックグラウンドを決定するための方法を含めていろいろな補正法を論じた。ppm量の元素15種を定量した。生物および岩石試料,大気中の粒子フィルターの分析例を示す;写図17表6参20

シソーラス用語： けい光X線分析 ,  元素分析

タイトルに関連する用語 (5件)： 半導体検出器 ,  X線分光計 ,  徴 ,  元素 ,  定量