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J-GLOBAL ID：201602011931198156   整理番号：72A0270624

組合せ論理回路の完全検査集合を生成する効率のよいアルゴリズム

An efficient algorithm for generating complete testsets for combinational logic circuits.

著者 (2件)： YAU S S ,  TANG Y-S
資料名： IEEE Trans Comput  (IRE Transactions on Electronics Computers)
巻： 20  号： 11  ページ： 1245-1251  発行年： 1971年 
JST資料番号： C0233A  ISSN： 0018-9340  CODEN： ICTOB4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 論理関数のプール微分の性質にもとずいて組合せ論理回路におけるstuck-at-0とstuck-at-1の単一故障の完全検査集合を生成するアルゴリズムを示す。この方法をプログラムして計算機で実行させることにより,大きな回路を効率よく取扱えることを述べる。このアルゴリズムを修正して小記憶量の計算機に対してプログラムできることを述べる。プール微分にもとずいた多重故障検出の検査集合の構成に関するいくつかの考えを述べる;写図9表2参13

シソーラス用語： アルゴリズム ,  故障診断 ,  組合せ回路 ,  論理回路
準シソーラス用語： Boole微分 ,  論理検査

タイトルに関連する用語 (5件)： 組合せ ,  論理回路 ,  検査 ,  集合 ,  アルゴリズム