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J-GLOBAL ID：201602011959302900   整理番号：72A0254117

厚膜回路技術

Achieving consistent results with thick-film.
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著者 (1件)：
DRYDEN W G

DRYDEN W G について


資料名：
Solid State Technol  (Semiconductor Products)

Solid State Technol について


巻： 14  号： 9  ページ： 54-57  発行年： 1971年 
JST資料番号： E0226A  ISSN： 0038-111X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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厚膜抵抗値を歩留りよく実現するためには,プリント工程,ファイヤリング工程をはじめ,材料の特性,工程制御が特に重要である。材料の試験評価が注意深く行なうれていても,厚膜の場合には経験技術によるとこるが大きい。材料の特性づけと工程制御によって,再現性を得るためのステップを検討し,製造歩留を最大にするための厚膜設計技術を述べた。特に材料の選択法,エマルジョン厚,スクリーン張力およびペーストの粘度の制御モニタリング技術を検討し,抵抗率の長さ依存性,層抵抗に対する電極材料の効果および層抵抗の分布を示した;写図3表1参2
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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厚膜回路

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厚膜技術

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準シソーラス用語：
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厚瞑抵抗

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タイトルに関連する用語 (1件)：
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厚膜回路

厚膜回路 について


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