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J-GLOBAL ID：201602011965265570   整理番号：71A0026447

中性子照射したCuの低温における格子パラメータと電気抵抗の回復

Recovery of lattice parameter and electrical resistivity in low-temperature neutron-irradiated copper.

著者 (4件)： CRUBER E E ,  TESK J A ,  BLEWITT T H ,  BLACK R E
資料名： Phys Rev B  (Physical Review. B. Solid State)
巻： 2  号： 8  ページ： 2849-2858  発行年： 1970年 
JST資料番号： D0746A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ヘリウム温度で照射し,675Kまで等時焼なまし,4,2Kで回復を測定した。単一欠陥効果の重合せとして解析し,拡散機構の温度変化を決定した。Cuの第皿段階回復が空格子点移動によることが確められた;写図8表2参16

シソーラス用語： 回復 ,  格子定数 ,  照射損傷 ,  中性子照射 ,  電気抵抗 ,  銅
準シソーラス用語： 回復機構 ,  電気抵抗(回復)

タイトルに関連する用語 (6件)： 中性子照射 ,  Cu ,  低温 ,  格子パラメータ ,  電気抵抗 ,  回復