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文献
J-GLOBAL ID:201602012172130319   整理番号:68A0020088

プラズマ探針特性のひずみ II

著者 (1件):
資料名:
巻: 20  号:ページ: 15-19  発行年: 1968年
JST資料番号: G0326A  ISSN: 0371-6813  CODEN: TGDSBH  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN) 
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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気体プラズマの諸量をLangmuir探針で測定するとき,電圧-電流特性に生じるひずみを測定した.Langmuir探針に電子が捕集されるとき,周囲のプラズマの空間電位は上昇する.この上昇量はプラズマ内の電子温度,イオン温度,およびイオンと電子の質量比が変らない場合の壁電位の上昇量と同じである.水銀封じまりの直径10cmの球形放電管において,壁電位の変化を測定して得られた探針の電圧-電流特性に対する補正量は探針電流1mAにつき約1.5Vである;写図8参6
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