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J-GLOBAL ID:201602012196647398   整理番号:70A0122972

スパッタ状ハフニウムと陽極HfO2膜の作成と性質

Preparation and properties of sputtered hafnium and anodic HfO2 films.
著者 (1件):
資料名:
巻: 117  号:ページ: 396-403  発行年: 1970年 
JST資料番号: C0285A  ISSN: 0013-4651  CODEN: JESOAN  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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高電圧(4kV)でえられるHf膜はバルク状のものが98%の密度,50μohm-cmの比抵抗-1580ppm/°CのTCR,-2×10-5cm3/クーロンのHall係数を,低電圧(1,5kV)でえられるものは50%の密度,815μohm-cmの比抵抗,800ppm/°CのTCR,+12×10-5cm3/クーロンのHall効果をもつ。なおこの種の膜はバルク状のものと同じ六方最密構造をもつ。一方酸化ハフニウムは密度7.9g/cm3,陽極定数20Å/V,誘電定数18で,単斜晶系の多結晶構造をもち,100-1mA/cm2で陽極に作用した場合には0.085μf/cm2の容量密度をもつ;写図11表1参23
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