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J-GLOBAL ID：201602012201253425   整理番号：71A0024719

電界イオン顕微鏡による粒界面の決定

Determination of the plane of a grain boundry from a field-ion micrograph.

著者 (2件)： BOWKETT K M ,  SMITH D A
資料名： Phys Status Solidi A  (Physica Status Solidi. A. Applied Research)
巻： 2  号： 2  ページ： K63-K64,418(4)  発行年： 1970年 
JST資料番号： D0774A  ISSN： 0031-8965  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電界イオン顕微鏡像がステレオ投影で近似可能と仮定して,1枚の顕微鏡写真から粒界面を決定する方法について述べた;写図2参2

シソーラス用語： 結晶粒界 ,  電界イオン顕微鏡
準シソーラス用語： ステレオ投影 ,  粒界

タイトルに関連する用語 (2件)： 電界イオン顕微鏡 ,  粒界