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J-GLOBAL ID：201602012214556630   整理番号：71A0349400

計数値に対する二回抜取検査方式を見出す方法

A procedure for finding double sampling plans for attributes.

著者 (1件)： GUENTHER W C
資料名： J Qual Technol  (Journal of Quality Technology)
巻： 2  号： 4  ページ： 219-225  発行年： 1970年 
JST資料番号： D0647A  ISSN： 0022-4065  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 二項分布,超幾何分布,ポアソン分布に基づいた二回抜取検査方式を見出すための試行錯誤的な方法を紹介する。以前に発表されたことのある一回抜取検査方式の誘導方法をまず復習し,各分布について解説してから,各分布に基づいた二回抜取検査方式を見出すための方法を数値例によって示す。本稿の方法によって,二回抜取検査方式をいったん見出すことができれば,OC曲線やASN曲線をプロットすることができるような一連の値を計算することは容易にできる;参9

シソーラス用語： 統計的品質管理 ,  二項分布 ,  抜取検査
準シソーラス用語： ポアソン分布 ,  超幾何分布

タイトルに関連する用語 (2件)： 計数値 ,  抜取検査