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J-GLOBAL ID：201602012291417499   整理番号：71A0116455

電子衝撃 LIX スチルベン分子イオンからC₆H₆の離脱

Electron impact studies. LIX. The loss of C₆H₆ from the stilbene molecular ion.

著者 (2件)： BOWIE J H ,  WHITE P Y
資料名： Aust J Chem  (Australian Journal of Chemistry)
巻： 24  号： 1  ページ： 295-208  発行年： 1971年 
JST資料番号： A0492A  ISSN： 0004-9425  CODEN： AJCHA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： オーストラリア (AUS)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： スチルベンの質量分析において,H・およびCH₃・の離脱の場合と異なり,C₆H₆の離脱は.ベンゼン環間,あるいはベンゼン環とオレフィン部分間の水素あるいは炭素の混成が起らないことをDでラベルしたスチルベンを用いて立証。そして.M-C₆H₆のピークは1つのフェニル環の特異的寄与によって起ると結論;写図1参14

シソーラス用語： スチルベン ,  フラグメンテーション ,  質量スペクトル
準シソーラス用語： ジューテリウム化合物 ,  ジューテリウム化合物(スチルベン) ,  スチルべン ,  フラグメンテーション(スチルベン) ,  質量スペクトル(スチルべン) ,  電子動撃 ,  電子動撃(スチルベン)

タイトルに関連する用語 (4件)： 電子衝撃 ,  スチルベン ,  分子イオン ,  離脱