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J-GLOBAL ID：201602012337331551   整理番号：72A0228098

紙の特定の性質をセミミクロ尺度で分析する自動測定装置

An automatical measuring device for semi-micro scale analysis of certain paper properties.

著者 (2件)： AALTONEN P ,  SIMOLA J
資料名： Pap Puu  (Paperi ja Puu)
巻： 53  号： 9  ページ： 479-487. 490-491  発行年： 1971年 
JST資料番号： H0036A  ISSN： 0031-1243  CODEN： PAPUAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： フィンランド (FIN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 紙の坪最は繊維の結束やヘッドボックス,ワイヤなどにおける紙匹形成時の変化により細かな変動があり,この不均一性が印糊やコーティングに影響を与えている。ヘルシンキ工科学大学製紙研究所では直径1mmの面積を(嘱立として坪量,厚み。光学的性質の測定器を製作した。紙は連続的に走行速度を変えることが可能で,測定結果はティジタルの形で自動記録される。坪量はβ線吸収により,厚みは鋼状の間にはさんで,光学的性質は光散乱係数で測定。測定後試料にカレンダ誉けや印刷をし再び同一位置で測定することもできる。新聞用紙と印刷用紙についての測定結果を示した;写図10参13

シソーラス用語： 計測 ,  光学的性質 ,  紙 ,  自動制御 ,  抄紙機 ,  地合 ,  坪量

タイトルに関連する用語 (6件)： 紙 ,  性質 ,  セミ ,  尺度 ,  分析 ,  測定装置