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J-GLOBAL ID:201602012568379492   整理番号:71A0246310

再結合放射の記録による半導体素子の温度分布の観測

Наблюдение тепловых полей в полупроводниковых приборах при помощи регистрации рекoмбинацнонного излучения.
著者 (3件):
資料名:
巻: 16  号:ページ: 1523-1524, 1524(1)  発行年: 1971年 
JST資料番号: R0090A  ISSN: 0033-8494  CODEN: RAELA   資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: 旧ソビエト連邦 (SUN)  言語: ロシア語 (RU)
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半導体構造の電流分布とこれに基く温度分布はトランジスタやダイオードの動作を安定かつ信頼性あるものとするための重要な因子である。温度分布の測定法としては,サーモグラフィなども使われているが感度が悪い。本文では,半導体接合に注入電流が流れると,少数キャリヤの再結合が起り,再結合放射が生じることに注目し,これを赤外ピジコンを用いてテレビジョン方式により記録して,温度分布を観測する方法を述べ,記録例を写真に示した;参2
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