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J-GLOBAL ID：201602012587286330 整理番号：71A0228956
固体装置用試験ランプ
A test lamp for solid state equipment.
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著者 (1件)：
WILSON W D
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資料名：
West Electr Eng (Western Electric Engineer)
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巻：
15
号：
1
ページ：
13-14
発行年：
1971年
JST資料番号：
D0135B
ISSN：
0043-3659
CODEN：
WELEA
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
解説
発行国：
アメリカ合衆国 (USA)
言語：
英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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この論文は固体装置用試験ランプについて述べた。従来の固体装置用試験ランプは一24Vの残留電圧があるので今日使用されている低電圧固体装置を傷つけるという欠点があった。新しい固体装置用試験ランプはわずか0.5Vの残留電圧で上記の問題点を解決したものである。 この装置は0電圧,±24V.-48V直流,±130V直流電圧を検出することができる。この新しい試験装置の回路図を図示した試験装置のプロープが被試験電圧に接続されると,検出表示電圧ランプが点灯して試験される;写図1
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